铸造 冶金 机械加工 消防 航天航空 金属加工 金属材料质量鉴定 新材料开发
全谱谱线图
CCD+CMOS全谱分析技术
丰富的谱线信息，分析灵敏线更多，保证分析的准确度；
基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；
智能选择合适的灵敏线，通过多谱线结合技术，实现低中高含量段的检测需求；
基于全谱测量数据的多峰拟合技术，有效消除谱线干扰，实现精确测量。
CMOS线阵传感器
独创的实时智能漂移校正技术
在分析过程中实时进行光谱漂移校正，增强仪器稳定性；
减少标准化校正次数，延长校正周期；
自动完成仪器校正，操作更加简便。
谱线漂移校正
独特的CMOS检测技术优于CCD
CMOS相比CCD具有更高的灵敏度和响应速度；
CMOS相比CCD具有更好的线性度；
CMOS相比CCD具有极高的紫外光敏感度，在深紫外区如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的检测更准确。
紫外元素强度对比
-
-
国内首创CMOS全谱接收技术； -
人性化一键激发，一键紧急停止；
-
一体化光室光学系统设计；
-
可编程脉冲全数字光源技术；
-
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多种基体；
- 波长范围140-680nm，可满足更多元素的分析要求。